北京儀綜所環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測(cè)中心提供：
高溫老化試驗(yàn)；
高溫高濕人工加速老化試驗(yàn)；
高溫加速電暈老化試驗(yàn)分析及其壽命預(yù)測(cè)；
通常情況下，進(jìn)行1000小時(shí)高溫老化試驗(yàn)過(guò)程中，設(shè)備是處于通電工作狀態(tài)的。讓設(shè)備工作于其高溫工作的上限溫度，進(jìn)行連續(xù)的1000小時(shí)工作試驗(yàn)。
北京儀綜所高溫老化試驗(yàn)箱，可以進(jìn)行這類的高溫老化試驗(yàn)，用于驗(yàn)證電力、電信行業(yè)的板卡、服務(wù)器等長(zhǎng)期處于工作狀態(tài)下的設(shè)備的工作穩(wěn)定性。
我檢測(cè)機(jī)構(gòu)具備CNAS、CMA試驗(yàn)資質(zhì)，出具的檢測(cè)報(bào)告是國(guó)家認(rèn)可的第三方檢測(cè)報(bào)告。模擬溫度變化條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測(cè)試。例如電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn),電子零配件、塑化產(chǎn)品高溫老化試驗(yàn)。
高溫老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。
高溫老化測(cè)試的目的：
高溫老化測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器等）模擬高溫、惡劣環(huán)境的可靠性測(cè)試，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要手段、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。
老化測(cè)試主要是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用過(guò)程中的各種惡劣條件的高強(qiáng)度測(cè)試，同時(shí)根據(jù)使用的要求，合理地預(yù)測(cè)產(chǎn)品使用壽命，高溫老化測(cè)試也就是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
進(jìn)行電氣產(chǎn)品高溫試驗(yàn)、高溫老化試驗(yàn)等環(huán)境測(cè)試項(xiàng)目可找北京儀綜所環(huán)境可靠性試驗(yàn)及電磁兼容檢測(cè)中心測(cè)試，我司擁有高溫老化試驗(yàn)箱等設(shè)備，是國(guó)內(nèi)權(quán)威的高溫試驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室，提供電子產(chǎn)品、家用電器、無(wú)線、電路板、芯片設(shè)備的高溫老化、高溫壽命試驗(yàn)。
