擊穿 puncture固體介質(zhì)中發(fā)生的破壞性放電。
   注1：不確定度是正的，給出時不帶符號。
破壞性放電電壓值的統(tǒng)計特性
破壞性放電電壓是隨機變化的，通常須進行大量的試驗才能獲得統(tǒng)計意義的電壓值。本標準中給出的試驗程序，一般是基于統(tǒng)計考慮而確定的。試驗結(jié)果的統(tǒng)計評價信息見附錄A。
火花放電 sparkover氣體或液體媒介中發(fā)生的破壞性放電。
GB311.1  絕緣配合  第1部分：定義、原則和規(guī)則；
試品的耐受概率 withstand probability of a test objectq
   注1：容差不同于測量不確定度。
   GB/T16927.3  高電壓試驗技術(shù)  第3部分：現(xiàn)場試驗的定義及要求；
試品的破壞性放電概率 disruptive discharge probability of a test objectP
   GB/T16896.1  高壓沖擊測量儀器和軟件  第1部分：對儀器的要求；
測量不確定度 uncertainty of a measurement
   施加一次給定波形的具有確定的預期電壓數(shù)值的電壓后試品上不引起破壞放電的概率。如果破壞性放電概率為p，則耐受概率q為（1-p）。
   在本部分中，所有不確定度規(guī)定為95%置信水平下的值。
   耐受試驗中，表征試品絕緣性能的規(guī)定的預期電壓值。
   注：固體介質(zhì)中發(fā)生破壞性放電會導致絕緣強度的永義喪失；而在液體或氣體介質(zhì)中絕緣只是暫時喪失強度。
   GB/T4585  交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗；
c）沖擊電壓絕緣試驗；
試品的破壞性放電電壓值 disruptive discharge voltage value of a test object
   GB/T16896.2  高壓沖擊測量儀器和軟件  第2部分：軟件的要求；
容差和不確定度容差 tolerance
   施加一次給定波形的具有確定的預期電壓數(shù)值的電壓后試品上引起破壞性放電的概率。參數(shù)P可用百分數(shù)或適當?shù)男?shù)來表示。
 注：也可能出現(xiàn)非自持破壞性放電，此時試品被火花放電或電弧短暫橋接。這種情況下，試品上的電壓會短暫地降到零或非常低的值。根據(jù)試驗回路和試品的特性，可能出現(xiàn)絕緣強度的恢復，甚至允許試驗電壓達到更高的數(shù)值。除非有關(guān)技術(shù)委員會另有規(guī)定，否則這種情況應視作破壞性放電。
   如果沒有破壞性放電發(fā)生，應該能獲得的特性。一旦使用預期特性，必須加以注明。試驗電壓的實際特性 actual characteristics of a test voltage
 與電氣作用下絕緣發(fā)生故障有關(guān)的現(xiàn)象。試驗時絕緣完全被放電橋接，并使電極間的電壓實際降到零。適用于固體、液體和氣體介質(zhì)以及它們的復合介質(zhì)中的破壞性放電。有時也稱“電氣擊穿”。
試品的耐受電壓 withstand voltage of a test object
b）交流電壓絕緣試驗；
   破壞性放電試驗中，表征絕緣性能的規(guī)定的預期電壓值。
   GB/T7354  局部放電測量；
注3：對Um大于800kV的設備，若要滿足某些規(guī)定的程序，則有可能無法滿足容差和不確定度。
   GB/T22707  直流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗。下列術(shù)語和定義適用于本文件。放電特性破壞性放電 disruptive discharge
試驗電壓 value of the test voltage見本部分的相關(guān)條款。
閃絡 flashover氣體或液體媒介中沿介質(zhì)表面發(fā)生的破壞性放電。
   試驗電壓的實際特性是指試驗期間試品端子之間出現(xiàn)的特性。
   除非另有規(guī)定，耐受電壓是指標準大氣條件下的值（見4.3.1）。僅適用于外絕緣。
   測量值與規(guī)定值之間的允許差值。
注1：有關(guān)現(xiàn)場試驗見GB/T16927.3。
   注2：試品試驗通過（或失?。┑慕Y(jié)論是根據(jù)測量值確定的，并不考慮測量不確定度的影響。
試品的確保破壞性放電電壓 assured disruptive discharge voltage of a test object
   發(fā)生在中間電極之間或?qū)w之間的放電，此時試驗電壓并不跌落至零。除非有關(guān)技術(shù)委員會另有規(guī)定，否則，這種現(xiàn)象不能視作破壞性放電。
   GB/T11022  高壓開關(guān)設備和控制設備標準的共同技術(shù)要求；
試驗電壓特性的預期特性 prospective characteristics of a test voltage
   與測量結(jié)果有關(guān)的一個參數(shù)，它表征受到測量一定程度影響的數(shù)值的分散性。
本部分適用于z高電壓Um為1kV以上設備的下列試驗：
   有些非破壞性放電稱為“局部放電”，參見GB/T7354。
非破壞性放電 non-disruptive tlischarge
   本部分相關(guān)條款規(guī)定的各種試驗中引起破壞性放電的試驗電壓值。
d）以上電壓的聯(lián)合和合成試驗。
   注2：不應與試驗規(guī)定值或參數(shù)的容差相混淆。
注2：為獲得可再現(xiàn)且有效的結(jié)果，可以要求采用替代試驗程序。由有關(guān)技術(shù)委員會選擇合適的試驗程序。
   GB/T16927.2  高電壓試驗技術(shù)  第2部分：測量系統(tǒng)；
a）直流電壓絕緣試驗；