SDCOM的特點
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能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品
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各種樣品架及輸送夾具，用于線鋸、拋光等
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側晶方向標記選項
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無水冷卻
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**精度：0.01°(視晶體質量而定)
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確定單晶的完全晶格取向
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使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量
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氣冷式X射線管，無需水冷
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適合于研究和生產(chǎn)質量控制
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手動操作(沒有自動化選項)
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SDCOM的特點
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能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品
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各種樣品架及輸送夾具，用于線鋸、拋光等
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側晶方向標記選項
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無水冷卻
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**精度：0.01°(視晶體質量而定)
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確定單晶的完全晶格取向
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使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量
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氣冷式X射線管，無需水冷
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適合于研究和生產(chǎn)質量控制
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手動操作(沒有自動化選項)
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